mepnews.id – Universitas Diponegoro (Undip) memiliki XPS dan TEM, dua alat mikroskopi canggih yang mampu menganalisis material hingga skala nano. Kehadiran dua alat ini memperkuat Laboratorium Terpadu sebagai pusat riset unggulan di Indonesia.
UPT Laboratorium Terpadu Undip mendukung riset melalui layanan penelitian, pengujian, serta analisis sampel. Layanan pengujian sampel dengan fasilitas peralatan uji canggih dan mutakhir di Lab ini dapat dimanfaatkan civitas academica Undip maupun pihak eksternal.
Dikabarkan situs resmi undip.ac.id, UPT Laboratorium Terpadu Undip mendatangkan alat uji terbaru XPS (X-Ray Photoelectron Spectroscope) dan TEM (Transmission Electron Microscope). Alat-alat ini tergolong limited edition karena hingga saat ini hanya ada tiga unit di Indonesia.
Kepala UPT Laboratorium Terpadu, Prof Dr Istadi ST MT mengatakan tiga unit alat uji XPS masing-masing berada di Badan Riset dan Inovasi Nasional (BRIN), Universitas Indonesia, dan Undip. Dosen Teknik Kimia ini mengklaim alat uji TEM dengan spesifikasi dan fasilitas tertinggi tersedia di UNDIP.
XPS merupakan alat uji yang mampu menganalisis secara kualitatif dan kuantitatif suatu senyawa di dalam suatu material. Dengan memanfaatkan efek fotolistrik, alat ini bisa menganalisis kandungan dan komposisi atomik unsur suatu bahan menggunakan prinsip binding energy secara molekular.
Penggunaan alat uji XPS memungkinkan analisis komposisi atomik suatu material atau fasa pada material yang lebih akurat. Misalnya ketika akan dilakukan uji komposisi logam besi, XPS digunakan untuk menentukan tingkat kemurniannya serta mengidentifikasi apakah material tersebut tergolong besi elemental atau besi oksida.
Identifikasi kualitatif dan kuantitatif (komposisi % atomik) fasa senyawa juga dapat diukur secara lebih akurat dan lebih nyata. Misalnya, bisa membedakan antara Fe, FeO, Fe₂O₃, atau Fe3O4. Dengan teknologi XPS, pengukuran senyawa dalam material dapat dilakukan dengan presisi tinggi.
TEM merupakan mikroskop yang mampu menganalisis material hingga skala nano. Dengan TEM, peneliti dapat mengamati struktur material hingga ukuran 0,1 nanometer.
“Nano itu ukuran sangat kecil. Satu nanometer (nm) sama dengan satu per satu miliar meter, atau 0,000000001 meter atau 10⁻⁹ meter. Bayangkan betapa kecilnya. Tapi, sekecil apa, kita bisa lihat sampai 0,1 nano menggunakan TEM,” ucap Prof Istadi.
Ia mencontohkan, alat ini bisa mengukur dan menampilkan ukuran lattice kristal hingga ukuran 0.14 nm dengan metode High Resolution TEM (HR-TEM) menggunakan teknologi canggih. Material yang diuji bisa berupa membran, thin film, advanced material, dan lain-lain.
Undip memiliki dua analis terlatih khusus dalam mengoperasikan alat uji XPS dan TEM. Mereka telah menjalani pelatihan intensif satu minggu di perusahaan produsen alat uji di Jepang, yang kemudian dilanjutkan dengan pelatihan di Indonesia.